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FLUKE 9011-B 幹體爐
FLUKE9011-B幹體爐作為福祿克9011係列的升級款高精度雙體溫度校準儀器,延續了係列產品雙獨立模塊的核心設計,同時在嵌板適配性、溫控響應速度與數據溯源能
FLUKE 9011-B 幹體爐的詳細資料
FLUKE9011-B幹體爐作為福祿克9011係列的升級款高精度雙體溫度校準儀器,延續了係列產品雙獨立模塊的核心設計,同時在嵌板適配性、溫控響應速度與數據溯源能力上實現優化。該儀器覆蓋-30°C至670°C的寬溫度量程,可精準校準熱電偶、RTD等多種溫度探頭,廣泛應用於工業製造、科研實驗、計量檢測等領域。FLUKE9011-B幹體爐搭載精密鉑電阻RTD傳感器與數字化閉環控製係統,配合專屬B型嵌板的多孔設計,既保障了校準精度,又提升了批量作業效率。本文將結合權威技術資料,從核心配置、測試原理、性能參數、應用場景及維護要點等方麵展開分析,全麵解讀其技術優勢與實用價值。
FLUKE9011-B幹體爐的核心競爭力源於科學的硬件配置與人性化結構設計,從溫控係統到接口組件,每一處細節均圍繞精準校準與便捷操作展開。該儀器采用高溫模塊與低溫模塊獨立控製的雙體架構,兩者分別配備專屬數字控製器,可獨立設定溫度、監控運行狀態,避免模塊間溫度幹擾,同時支持並行工作模式,大幅提升校準效率。
在溫控核心方麵,FLUKE9011-B幹體爐采用精密鉑電阻RTD作為溫度檢測傳感器,其電阻-溫度特性穩定,能實時捕捉井體溫度細微變化並轉換為電阻信號,傳輸至控製器進行處理。控製器通過雙向可控矽驅動加熱器或熱電裝置(TED)調節溫度,其中高溫模塊加熱器功率為825W,低溫模塊為325W,總功率達1150W,充足的功率供應確保快速升降溫能力——高溫模塊升溫至最高溫度僅需30分鍾,低溫模塊僅需15分鍾。儀器內置智能風扇散熱係統,根據溫度自動調節轉速,通過底部進風、頂部出風的氣流路徑為設備降溫,避免過熱損壞電子元件。
作為FLUKE9011-B幹體爐的特色配置,B型嵌板的設計進一步拓展了探頭適配範圍。該嵌板為多孔結構,包含6個井孔,其中3/16"、1/4"、3/8"直徑各2個,專為批量校準同規格係列探頭設計,尤其適合工業生產線中標準化傳感器的校準需求。高溫模塊井深152mm,低溫模塊井深124mm,足夠的深度確保探頭感溫元件與井壁充分接觸,減少溫度梯度帶來的誤差。此外,儀器支持A、C、D型嵌板的互換,可適配1/16"(1.6mm)至1/2"(12.7mm)多種直徑探頭,低溫模塊還額外配備4個固定直徑外部井(1/4"、3/16"、3/16"、1/8"),進一步提升場景適配性。
操作與接口配置兼顧實用性與擴展性。FLUKE9011-B幹體爐的前麵板配備雙數字LED顯示屏,分別實時顯示兩個模塊的當前溫度,分辨率達0.1°C,數據清晰直觀;四個核心操作按鍵(SET、UP、DOWN、EXIT)布局合理,通過簡單組合即可完成溫度設定、單位切換、參數調整等功能。儀器背部集成電源接口、RS-232串行通信接口與保險絲座,電源支持115VAC與230VAC雙向切換,適配不同地區電網電壓;RS-232接口采用DB-9連接器,支持最長15.24米遠距離通信,可連接計算機、打印機實現數據自動記錄與校準報告生成,配合9930Interface-it控製軟件或9938MET/TEMPII軟件,還能實現校準流程自動化。
FLUKE9011-B幹體爐的溫度校準測試原理基於“標準溫度源對比法”,核心是通過構建穩定、均勻的標準溫度環境,將待校準探頭與儀器內置的標準鉑電阻RTD傳感器進行溫度信號對比,從而實現對探頭的精準校準。其測試流程與技術邏輯可分為三個關鍵環節,每個環節均依托儀器的硬件配置與算法優化實現高效運行。
(一)標準溫度環境構建
FLUKE9011-B幹體爐通過“傳感器-控製器-執行器”閉環控製係統構建標準溫度環境。首先,內置的精密鉑電阻RTD傳感器實時檢測井體溫度,將溫度信號轉換為電阻信號傳輸至數字控製器;控製器根據預設溫度與實際檢測溫度的差值,通過比例帶調節算法計算出所需的加熱或製冷功率,向加熱器或熱電裝置(TED)發送控製信號;執行器根據指令調節輸出功率,實現井體溫度的升、降或穩定控製。
為保障溫度環境的穩定性與均勻性,FLUKE9011-B幹體爐采用多重優化設計。在溫度穩定性方麵,控製器通過比例帶動態調整輸出功率——比例帶是設定點附近的溫度範圍,溫度處於比例帶底部時加熱器輸出100%功率,處於頂部時輸出0-100%(高溫模塊)或-100-100%(低溫模塊),通過功率線性調節避免溫度震蕩,使高溫模塊在100°C時穩定性達±0.02°C,低溫模塊在-30°C時穩定性同樣達±0.02°C。在溫度均勻性方麵,井體內部采用隔熱設計減少熱量散失,B型嵌板與井壁緊密貼合確保溫度傳導均勻,高溫模塊均勻性達±0.2°C(典型值±0.05°C),低溫模塊嵌板井均勻性達±0.05°C,確保探頭在井內不同位置獲得一致的校準環境。
(二)探頭溫度傳導與信號采集
待校準探頭(熱電偶、RTD等)插入FLUKE9011-B幹體爐的井孔後,通過熱傳導原理與井體實現溫度平衡。儀器的井體與B型嵌板采用高導熱合金材料製成,能快速將加熱器/TED產生的熱量傳遞至探頭感溫元件;同時,井深設計確保探頭插入至全深度(高溫模塊152mm、低溫模塊124mm),減少空氣間隙導致的熱阻,使探頭溫度盡快與井體溫度趨於一致。根據儀器技術資料,將室溫下的0.25英寸直徑探頭插入300°C的井體中,僅需5分鍾即可使探頭溫度與井體溫度誤差小於0.1°C,10分鍾可達到最大穩定性。
在信號采集環節,FLUKE9011-B幹體爐的控製器不僅實時采集內置RTD傳感器的溫度信號,還可通過RS-232接口接收待校準探頭的輸出信號(如熱電偶的毫伏信號、RTD的電阻信號)。對於熱敏開關類元件,儀器還能通過頂部的DisplayHold端子連接元件,實時監測其狀態變化時的溫度,並通過顯示屏閃爍提示“o”(斷開)或“c”(閉合)狀態,為熱敏元件校準提供精準支持。
(三)數據對比校準與結果輸出
FLUKE9011-B幹體爐的校準核心是“標準值與測量值的對比修正”。儀器內置的鉑電阻RTD傳感器參數(R0、ALPHA、DELTA、BETA)均經過工廠校準,並記錄在NIST可跟蹤校準報告中,其檢測的溫度值作為標準溫度參考。待校準探頭溫度穩定後,控製器將探頭輸出信號轉換為溫度值,與標準溫度值進行對比,計算出探頭的測量誤差;用戶可根據誤差結果判斷探頭是否合格,或通過儀器的校準參數調整功能修正探頭誤差。
對於批量校準場景,FLUKE9011-B幹體爐支持斜坡和均熱(RampandSoak)編程功能,用戶可設置最多8個設定點的循環校準程序,配置每個設定點的均熱時間(0-500分鍾可調)與循環模式(上行停止、上下行停止、上行重複、上下行重複),儀器將自動完成多步驟校準流程,無需人工幹預。校準數據可通過三種方式輸出:顯示屏實時顯示、打印機現場打印、計算機軟件存儲並生成校準報告,報告包含校準溫度點、誤差值、校準時間等關鍵信息,支持NIST溯源,滿足計量檢測的合規要求。
| 性能參數 | 高溫模塊 | 低溫模塊 |
| 溫度範圍 | 50°C至670°C(122°F至1238°F) | -30°C至140°C(-22°F至284°F) |
| 準確度 | 50°C時±0.2°C;400°C時±0.4°C;600°C時±0.65°C | 嵌板井±0.25°C;固定井±0.65°C |
| 穩定性 | 100°C時±0.02°C;600°C時±0.06°C | -30°C時±0.02°C;140°C時±0.04°C |
| 均勻性 | ±0.2°C(典型值±0.05°C) | 嵌板井±0.05°C;固定井±0.25°C |
| 井深 | 152mm(6in) | 124mm(4.875in) |
| 升降溫時間 | 升溫至最高溫度30分鍾;660°C冷卻至100°C需120分鍾 | 升溫至最高溫度15分鍾;140°C冷卻至-30°C需30分鍾 |
| 嵌板配置(B型) | 6個井孔(3/16"、1/4"、3/8"各2個),支持可互換 | 6個井孔(3/16"、1/4"、3/8"各2個),外加4個固定直徑外部井(1/4"、3/16"、3/16"、1/8") |
| 電源規格 | 115VAC(±10%)8.8A或230VAC(±10%)4.4A,50/60Hz,1150W | 與整機電源規格一致 |
| 校準溯源 | NIST可跟蹤校準報告(8個點:50°C、100°C、200°C、300°C、400°C、500°C、600°C、660°C) | NIST可跟蹤校準報告(8個點:-30°C、0°C、25°C、50°C、75°C、100°C、125°C、140°C) |
| 安全合規 | 符合IEC1010-1標準,過壓類別II、汙染等級2 | 與整機安全合規標準一致 |
(一)典型應用場景
FLUKE9011-B幹體爐的設計充分適配不同場景的校準需求,其應用覆蓋工業製造、科研實驗、計量檢測三大核心領域。在工業製造場景中,該儀器可用於汽車、電子、化工等行業的傳感器生產線批量校準,例如汽車發動機溫度傳感器、電子設備熱電偶的出廠校準。憑借B型嵌板的多孔設計,一次可校準多個同規格探頭,配合自動化軟件實現校準流程標準化,大幅提升生產效率;同時,其便攜性設計(重量16.4kg,尺寸292x394x267mm)與寬電壓適配能力,使其能靈活應對不同地區的工業現場移動校準需求。
在科研實驗場景中,FLUKE9011-B幹體爐的高精度與穩定性成為關鍵優勢。實驗室可利用其NIST可跟蹤校準報告實現數據溯源,滿足科研實驗對數據可靠性的嚴苛要求;其寬溫度量程支持從低溫物理實驗到高溫材料測試的多種探頭校準,例如校準低溫環境監測RTD探頭、高溫反應釜熱電偶等,為實驗結果的準確性提供保障。B型嵌板的規格適配性,能滿足科研中多種標準探頭的校準需求,無需頻繁更換嵌板,提升實驗效率。
在計量檢測場景中,FLUKE9011-B幹體爐可作為標準溫度源,用於第三方檢測機構對各類溫度測量儀器的檢定與校準。儀器符合歐洲EMC指令與低電壓指令,具備C-TIC澳大利亞EMC標誌,校準結果在全球範圍內獲得認可,適用於跨區域計量檢測項目。其雙模塊並行工作模式,可在同一時間完成不同溫度點的檢定,縮短檢測周期,提升檢測機構的服務效率。
(二)核心操作要點
FLUKE9011-B幹體爐的操作流程簡潔明了,核心步驟包括開機設置、溫度設定與校準執行。開機時,需將儀器放置在平坦表麵,確保周圍至少15cm通風空間,插入接地插座後,在3秒內同時開啟兩個電源開關,儀器將自動完成自檢並進入正常運行狀態;若超過3秒開啟開關,顯示屏會出現“ICL”提示,按下任意麵板按鍵即可消除。
溫度設定流程分為四步:一是按壓“SET”鍵兩次進入設定點調整模式;二是通過“UP”“DOWN”鍵調整目標溫度值,分辨率達0.1°C;三是按壓“SET”鍵保存設定;四是長按“EXIT”鍵返回溫度顯示界麵。儀器內置8個可編程設定點記憶功能,用戶可存儲常用校準溫度(如50°C、100°C、200°C等),後續直接調用無需重複設置。此外,用戶還可通過按壓“SET”鍵三次切換攝氏度與華氏度單位,適配不同使用習慣。
校準執行時,需將待校準探頭插入B型嵌板井孔至全深度,避免探頭與井壁間隙過大;探頭插入後需給予足夠穩定時間,確保溫度平衡。對於批量校準,可啟用斜坡和均熱程序,設置多設定點循環;對於自動化校準,通過RS-232接口連接計算機,利用軟件發送指令(如“s=50.0”設定溫度、“t”讀取實際溫度)實現遠程控製。校準過程中,可通過顯示屏實時監測溫度穩定性,當加熱器功率波動不超過±1%/分鍾時,表明儀器處於穩定工作狀態,可記錄校準數據。
(一)日常維護要點
FLUKE9011-B幹體爐的維護核心是保持儀器清潔、避免不當操作,以延長使用壽命並保障性能穩定。儀器外部沾染汙漬時,可用濕布配合溫和清潔劑擦拭,禁止使用腐蝕性化學品;井體需定期用塑料刷或棉簽清理異物,避免液體進入井孔導致電子元件損壞;B型嵌板需定期打磨清潔,尤其是低溫模塊在0°C以下使用後,需及時清理凝露與殘留物質,確保插拔順暢,同時避免氧化層影響溫度傳導。
校準參數維護方麵,儀器的R0、ALPHA、DELTA、BETA等核心參數均記錄在出廠校準報告中,用戶不可隨意修改;若出現參數異常,需依據報告中的原始數據重新編程。儀器長期不使用(超過10天)或存儲在潮濕環境後,需通電“幹燥”2小時再使用;若儀器受潮,可放入50°C低濕度恒溫箱幹燥4小時以上,去除內部濕氣。此外,需避免儀器受到碰撞、跌落,禁止在高溫狀態(高於100°C)下直接關機,需先將設定溫度降至100°C以下冷卻後再斷電,防止設備損壞。
(二)常見故障排查
FLUKE9011-B幹體爐內置完善的故障檢測功能,常見故障及排查方法如下:若出現溫度讀數不準,大概率是校準參數異常,需查閱校準報告重新編程R0、ALPHA等參數,之後允許儀器穩定一段時間再驗證;若控製器鎖定,可能是電源浪湧導致,需執行工廠重置序列——按住“SET”和“EXIT”鍵的同時開機,顯示“BUTTON”後釋放按鍵並立即再次按壓,儀器將顯示“-init-”並重啟,重啟後需重新輸入校準參數;若顯示屏出現錯誤代碼(如Err6表示控製傳感器故障、Err7表示加熱器故障),需執行工廠重置,若故障仍未解決,需聯係授權服務中心維修。
若儀器加熱或冷卻速度異常,需檢查掃描功能設置——掃描關閉時儀器將以最大速率升降溫,掃描開啟時速率可在0.1-50°C/min之間調節,速率過慢可能是掃描速率設置過低;若溫度無法設置高於某一數值,需檢查高溫限製(HighLimit)參數,該參數可通過菜單調整,避免因設置過低限製量程。對於“ICL”(InterconnectLink)錯誤,多因雙模塊開機間隔超過3秒導致,按下任意麵板按鍵即可消除,恢複正常控製。
FLUKE9011-B幹體爐以精準的溫度控製、靈活的嵌板適配與完善的校準溯源體係,成為溫度校準領域的實用型裝備。其雙模塊並行設計重構了傳統校準流程,B型嵌板的多孔配置提升了批量校準效率,標準溫度源對比測試原理保障了數據可靠性,而便捷的操作與維護設計則降低了使用門檻。無論是工業生產中的批量校準,還是科研實驗中的精密檢測,亦或是計量機構的專業檢定,FLUKE9011-B幹體爐都能憑借其技術優勢,提供高效、可靠的校準解決方案。隨著溫度測量技術的不斷發展,FLUKE9011-B幹體爐將繼續以貼合用戶需求的設計理念,在更多行業場景中發揮核心作用,助力各行業實現更高質量的溫度測量與質量控製
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