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SDS8000A係列,高分辨率,數字示波器




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SDS8000A係列高分辨率數字示波器的詳細資料

鼎陽SDS8000A係列高分辨率數字示波器是麵向高速、高精度測量場景的高端測試儀器,由鼎陽科技自主研發,專注解決高速信號捕獲、微小信號測量與複雜波形分析等核心痛點。該係列覆蓋8GHz-20GHz帶寬,提供12-bit/8-bit硬件分辨率選型,每通道實時采樣率最高達50GSa/s,搭配大存儲深度與超低本底噪聲設計,廣泛應用於半導體研發、高速通信、數字電路測試及電源完整性分析等領域。

SDS8000A係列以高分辨率、高采樣率、強分析能力為核心優勢,助力工程師精準把控信號細節,提升測試效率與研發質量。鼎陽SDS8000A係列高分辨率數字示波器,帶寬8GHz-20GHz,硬件12-bit垂直分辨率,40GSa/s實時采樣率,適配半導體、高速通信等場景,提供精準信號測量與分析方案。


一、產品簡介

核心定位:鼎陽SDS8000A列高分辨率數字示波器是針對高速、高頻、高精度測量需求的旗艦級測試設備,聚焦高速數字係統、射頻信號、精密模擬電路等場景,提供從信號捕獲、波形顯示到數據分析、協議解碼的全流程解決方案。 

適用行業:

 - 半導體行業:芯片研發、高速接口(PCIe/MIPI)驗證、時序測試;

 - 通信行業:5G/6G射頻測試、高速總線調試、信號完整性分析;

 - 電子製造:高速PCB測試、電源模塊檢測、精密傳感器測量;

 - 科研院所:高頻信號研究、脈衝信號分析、精密電子實驗。 

核心優勢:SDS8000A係列核心優勢集中在高分辨率、高采樣率、低噪聲、深存儲、強分析**五大維度:硬件12-bit垂直分辨率,量化精度為傳統8-bit示波器的16倍;最高50GSa/s實時采樣率,精準捕獲高頻信號;四通道超低本底噪聲(176μVrms典型值);單通道最大2.5Gpts存儲深度;集成眼圖抖動、協議解碼、一致性分析等功能,兼顧測量精度與分析效率。

SDS8000A係列高分辨率數字示波器.jpeg


 二、產品核心功能與技術原理 

  1. 高分辨率ADC技術 SDS8000A係列采用自研高速ADC芯片,12-bit硬件分辨率可將電壓信號劃分為4096個量化等級,相比8-bit(256級)顯著降低量化誤差,能捕捉mV級甚至μV級信號細微波動,避免小信號測量失真。通俗來說,普通示波器像“低像素相機”,易丟失細節;SDS8000A如同“高清相機”,清晰呈現波形微小變化,適合傳感器、弱信號檢測等場景。

  2.  高速采樣與信號捕獲 基於奈奎斯特采樣定理,SDS8000A係列每通道最高50GSa/s實時采樣率,可精準還原20GHz高頻信號,避免混疊失真。采用SPO波形捕獲技術,最高50萬幀/秒捕獲率,256級輝度+色溫顯示,直觀呈現信號出現概率與變化趨勢,快速發現偶發異常信號。

  3.  超低噪聲與信號保真 硬件電路采用屏蔽設計與低噪聲放大器,四通道本底噪聲低至176μVrms,減少外部幹擾與電路噪聲對測量的影響,確保微弱信號測量時波形純淨、數據可靠。

  4. 大存儲深度與長時記錄 單通道最大2.5Gpts存儲深度,支持長時波形連續記錄,兼顧高頻細節與長時間觀測需求,適合電源波動、間歇性故障排查等場景,可完整捕捉毫秒級甚至秒級信號變化。 5. 高級觸發與分析功能 集成邊沿、脈衝、視頻、邏輯等多種智能觸發,搭配串行總線觸發與解碼(I2C/SPI/UART/PCIe),快速定位目標信號;支持眼圖、抖動、直方圖、模板測試等分析工具,滿足高速信號一致性測試需求。 三、詳細技術參數表


參數SDS8000A-8G(12-bit)SDS8000A-16G(12-bit)SDS8000A-20G(8-bit)
模擬帶寬8GHz16GHz20GHz
垂直分辨率12-bit(硬件)12-bit(硬件)8-bit(硬件)
實時采樣率(每通道)40GSa/s40GSa/s50GSa/s
存儲深度(每通道)最大 2Gpts最大 2Gpts最大 2.5Gpts
波形捕獲率最高 50 萬幀 / 秒最高 50 萬幀 / 秒最高 50 萬幀 / 秒
本底噪聲(典型值)176μVrms(四通道)176μVrms(四通道)200μVrms(四通道)
垂直靈敏度1mV/div~1V/div1mV/div~1V/div1mV/div~1V/div
輸入通道4 模擬 + 1 外觸發4 模擬 + 1 外觸發4 模擬 + 1 外觸發Siglent
顯示屏15.6 英寸電容觸控屏15.6 英寸電容觸控屏15.6 英寸電容觸控屏
接口USB/LAN/HDMIUSB/LAN/HDMIUSB/LAN/HDMI
協議解碼PCIe/MIPI/I2C/SPIPCIe/MIPI/I2C/SPIPCIe/MIPI/I2C/SPI


四、產品核心優勢(對比市麵同類產品)

  1. 硬件高分辨率,小信號測量更精準 市麵同帶寬產品多為8-bit分辨率,SDS8000A係列12-bit硬件分辨率,量化精度提升16倍,ERES增強模式可達16-bit,弱信號測量時細節保留更完整,減少誤判。

  2. 采樣率與帶寬匹配,高頻信號無失真 部分品牌高帶寬型號采樣率偏低,易引發混疊;SDS8000A係列帶寬與采樣率嚴格匹配(20GHz帶寬配50GSa/s采樣率),高頻信號還原更真實。

  3. 全通道低噪聲,多通道測量一致性好 同類產品多為單通道低噪聲,SDS8000A係列四通道均達176μVrms超低噪聲,多通道同步測量時數據一致性強,適合多信號對比分析。

  4. 超大存儲深度,長時觀測無壓力 同級別產品存儲深度多為500Mpts以內,SDS8000A係列最大2.5Gpts,長時波形記錄能力更強,適配間歇性故障、電源穩定性測試等場景。

  5. 集成化分析工具,一站式測試 多數示波器需選配模塊實現眼圖、協議解碼,SDS8000A係列標配核心分析功能,減少額外成本,兼顧研發調試與生產測試需求。


五、產品適用場景 

  1. 半導體高速接口測試 用於PCIe 5.0/6.0、MIPI-CSI-2等高速接口的眼圖、抖動、時序測試,驗證信號完整性,定位信號衰減、幹擾等問題。

  2.  射頻與通信信號測量 適配5G毫米波、6G太赫茲頻段信號測試,分析調製信號、脈衝信號的幅度、頻率、相位特性,支撐通信設備研發與驗證。

  3. 精密電源與模擬電路測試 測量電源紋波、瞬態響應、負載調整率,分析運算放大器、傳感器等精密模擬電路的弱信號,保障電源穩定性與電路精度。

  4. 高速數字電路調試 測試高速PCB上DDR、USB4等信號的傳輸質量,排查信號反射、串擾、時序錯誤等問題,提升數字係統設計可靠性。

  5. 科研與教育實驗 高校、科研院所用於高頻信號、脈衝激光、精密電子等實驗,提供高精度數據支撐,助力科研成果轉化。



六、操作與使用優勢 

  1. 高清觸控交互,操作便捷 15.6英寸電容式觸摸屏,支持手勢縮放、拖動、長按菜單,搭配前麵板一鍵測量、一鍵觸發按鍵,減少菜單層級,新手快速上手,老手提升效率。

  2. 多端控製適配,靈活便捷 支持本地觸控、麵板按鍵、外接鼠標/顯示器,可通過網頁遠程操控,適配實驗室、生產線、遠程調試等場景,滿足多環境使用需求。

  3. 智能測量與自動化 集成30+種自動測量參數(幅度、頻率、上升時間等),支持測量結果統計、趨勢圖顯示;可通過SCPI命令實現自動化測試,適配批量生產與長期監測。

  4. 數據導出與兼容 支持波形數據、截圖、測量結果導出為CSV、PNG、TXT格式,兼容主流數據分析軟件(Matlab、Excel),便於數據二次處理與報告生成。 


七、售後保障與產品資質

 1. 售後保障 - 質保期限:整機3年質保,核心部件(ADC、顯示屏)5年質保;

 - 技術支持:7×24小時在線技術谘詢,48小時內遠程響應,72小時內現場服務(國內主要城市);

 - 升級服務:免費固件升級,新增功能與協議解碼,延長儀器使用壽命; 

- 校準服務:提供年度校準、上門校準服務,確保測量數據準確性。 

2. 產品資質 SDS8000A係列通過ISO9001質量體係認證、CE認證、FCC認證、RoHS環保認證,符合國家電子測量儀器標準,質量可靠,適配國內外項目采購需求。


 八、常見問題FAQ 

Q1:SDS8000A係列12-bit和8-bit型號如何選擇?

A1:弱信號(<10mV)、精密測量、傳感器場景選12-bit型號;高頻射頻、高速數字信號、預算敏感場景選8-bit型號。


Q2:SDS8000A能否測量20GHz以上信號?

A2:硬件帶寬最高20GHz,可通過等效采樣測量重複高頻信號,單次信號測量需匹配對應帶寬型號。 


Q3:多通道同時使用時,采樣率會下降嗎? 

A3:SDS8000A係列全通道同步采樣,4通道同時開啟仍保持最高采樣率,無帶寬與采樣率分攤問題。 


Q4:是否支持電池供電,適合戶外使用嗎? 

A4:可選配電池包,續航4小時以上,適配戶外、現場調試等無固定電源場景。 


Q5:協議解碼支持自定義嗎? 

A5:標配主流協議(PCIe/MIPI/I2C),支持用戶自定義協議解碼腳本,適配小眾協議測試。


 鼎陽SDS8000A係列高分辨率數字示波器憑借高分辨率、高采樣率、低噪聲、強分析能力等核心特性,精準匹配半導體、通信、電子製造等行業的高速高精度測量需求。從硬件設計到軟件功能,兼顧測量精度、操作便捷性與場景適配性,解決工程師在高速信號捕獲、微小信號測量、複雜波形分析中的痛點。搭配完善的售後保障與資質認證,SDS8000A係列是高速測試場景的可靠選擇,助力用戶提升研發效率、保障產品質量,推動電子測試技術創新發展。

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